Calibração e Análise Crítica de Certificados – Parte IX

Dada a interatividade característica do blog, e por solicitação da leitora que comentou “… creio que a análise crítica dos certificados de calibração é motivo de grande discussão e dúvidas nas indústrias de alimentos, será que poderia nos escrever um post mais prático”, assim tentaremos “desmistificar” tal tema, nesse 9º post da série.

Inicialmente para se estabelecer métodos e critérios de aceitação para análise dos sistemas de medição, temos que conceituar (fontes: Análise do Sistema de Medição – Edição abril/2003 e VIM) para harmonização dos termos:

• Estabilidade: capacidade de um instrumento de medição manter constantes suas características metrológicas;
• Linearidade: é a diferença obtida nos valores de tendência das medições ao longo da faixa de operação esperada do instrumento;
• Localização: análise que permite determinar a variação entre o valor indicado pelo instrumento e o valor de referência (real);
• Tendência: diferença entre a média observada das medições e a média padrão das mesmas peças usando dispositivos de medições de precisão;
• Confirmação Metrológica: é o conjunto de operações requeridas para garantir que um item de equipamento de medição encontra-se em um estado de conformidade com as especificações para seu uso pretendido;
• Valor Verdadeiro (VIM-1.19): valor consistente com a definição de uma dada grandeza específica;
• Medição (VIM-2.1): conjunto de operações que tem por objetivo determinar um valor de uma grandeza;
• Mensurando (VIM-2.6): objeto da medição, grandeza específica submetida à medição;
• Repetitividade (VIM-3.6):  Grau de concordância entre os resultados de medições sucessivas de um mesmo mensurando efetuadas sob as mesmas condições de medição. Simplificadamente a Repetitividade é a variação obtida quando o mesmo operador usa o mesmo equipamento para medir a mesma característica da mesma peça;
• Reprodutibilidade: é a variação na média da medição feita por diferentes operadores usando o mesmo instrumento para medir a mesma característica da mesma peça;
• Incerteza de Medição (VIM-3.9): parâmetro, associado ao resultado de uma medição, que caracteriza a dispersão dos valores que podem ser fundamentadamente atribuídos a um mensurando;
• Erro aleatório (VIM-3.13): resultado de uma medição menos a média que resultaria de um infinito número de medições do mesmo mensurando efetuadas sob condições de repetitividade;
• Erro sistemático (VIM-3.14):  média que resultaria de um infinito número de medições do mesmo mensurando, efetuadas sob condições de repetitividade, menos o valor verdadeiro do mensurando;
• Erro máximo (VIM-5.21): maior variação encontrada em relação ao padrão de referência durante uma série de medições;
• Padrão de Referência (VIM-6.6): padrão, geralmente tendo a mais alta qualidade metrológica disponível em um dado local ou em uma dada organização, a partir do qual as medições lá executadas são derivadas.

 Feito isso, vamos agora ao procedimento sugerido:

• 10% a 30% Aceitável (Análise Crítica);
• > 30% Reprovado;
• Analisar a estabilidade por família de equipamento, sendo que será selecionado 01 equipamento aleatoriamente;
• Executar os estudos de repetitividade e reprodutibilidade em todos os equipamentos utilizados para controlar as características do produto, podendo no caso de equipamentos similares, executar o estudo de 01 equipamento por família. Os estudos devem ser executados para todas as características determinadas no plano de controle;
• Quando aplicável, realizar a análise do sistema de medição anualmente, se possível entre períodos de calibração do equipamento;
• Para o cálculo de incerteza de medição  pode-se dimensionar três vezes cada ponto do ensaio, calculando a incerteza da medição sobre os resultados do ensaio;
• Aplicar o maior erro do instrumento de referência nas Fórmulas do Cálculo de Incerteza de Medição e Confirmação Metrológica:

Nomenclatura utilizada

Para Cálculos de Incerteza de Medição:

• 1) Cálculo do Desvio Médio:

db = |Xb – VR|

• 2) Cálculo do Desvio Padrão:

S  =  Raiz  (S (xn-xb)²⁾                                

                      (n-1)

• 3) Cálculo da Incerteza do instrumento:

II = ( t _n-1 ;  a/2 ) * S/(Raiz de n)

IT =  II + IR ou IT = Raiz de (II² + IR²) / IM = Maior  IT

VES = Maior db

EM = IM + ES

Nota: Valores adotados

a = 5 % => n = 3; t = 4.303

n = 4; t = 3.182

Para Confirmação Metrológica: 

1-      Critério da exatidão

          VR – TR  ?  xb  <  VR + TR

2-      Critério da aceitabilidade

          Pontual (por ponto de ensaio)

          db + II + IR <  (75/100) *  (D/X), ou

db + raiz de (II² + IR²) < (75/100) * (D/X)

3-      Critério da adequação

Pontual (por ponto de ensaio)

         db + II + IR ? (D/X)

           Laudo Final

           db +Raiz de (II² + IR²) ? (D/X)           

E finalizando pode, cara leitora, anexar aos laudos recebidos esse formulário sugerido onde avaliará os mesmos e conclusivamente chancelará a aprovação ou reprovação dos instrumentos calibrados.

Descomplicamos?